活動預告丨半導體光學檢測專題研討會將在天準公司舉行
2021-05-07 閱讀量：11344
5月9日，由中國集成電路檢測與測試創(chuàng)新聯(lián)盟（簡稱“測試聯(lián)盟”）、中國集成電路裝備創(chuàng)新聯(lián)盟（簡稱“裝備聯(lián)盟”）主辦，天準公司承辦的“半導體光學檢測專題研討會”將在天準公司舉行。
研討會將邀請國內相關重點光學檢測設備企業(yè)和生產企業(yè)圍繞國家集成電路測試產業(yè)“十四五”規(guī)劃、集成電路產業(yè)光學檢測核心關鍵技術與產業(yè)發(fā)展共同交流探討，以加強光學檢測產業(yè)鏈合作，推動重點光學檢測設備產品的研發(fā)和產業(yè)化。
